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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB01027373>
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No. 所蔵館 配置場所 文庫名 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 本館 2Fブルー区画 /549/I95 103831988 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 本館
配置場所 2Fブルー区画
文庫名
請求記号 /549/I95
巻号
年月次
資料ID 103831988
状態 配架済
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル・著者名 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
出版 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x, 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4000101846
シリーズ 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <BB00753225> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
NCID BN00059257
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU00174252>
著者標目リンク 浅田, 邦博(1952-)||アサダ, クニヒロ <AU00222383>
著者標目リンク 唐津, 修(1947-)||カラツ, オサム <AU00240704>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 電子工学 NDC8:549.08
分類標目 NDC7:549.92
分類標目 科学技術 NDLC:ND351
分類標目 科学技術 NDLC:ND386
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ