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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023. <BB01786120>
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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023. <BB01786120>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 所蔵館 配置場所 文庫名 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 本館 3F第1開架閲覧室 K/371/G36 111429015 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 本館
配置場所 3F第1開架閲覧室
文庫名
請求記号 K/371/G36
巻号
年月次
資料ID 111429015
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル・著者名 何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
出版 京都 : ナカニシヤ出版 , 2023.3
形態事項 viii, 223p ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784779517044
その他のタイトル 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
NCID BD00745593
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Gergen, Kenneth J. <AU00109806>
著者標目リンク Gill, Scherto R. <AU00310321>
著者標目リンク 東村, 知子||ヒガシムラ, トモコ <AU00283160>
著者標目リンク 鮫島, 輝美||サメシマ, テルミ <AU00270250>
分類標目 教育学．教育思想 NDC9:371.7
分類標目 教育学．教育思想 NDC10:371.7
分類標目 教育 NDLC:FC63
件名標目等 教育評価||キョウイクヒョウカ
件名標目等 教育評価||キョウイクヒョウカ
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