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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える
光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022. <BB01244633>
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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える
光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- ナカニシヤ出版, 2022. <BB01244633>
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1件~1件(全1件)
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50件
100件
No.
所蔵館
配置場所
文庫名
請求記号
巻号
年月次
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
本館
3F第1開架閲覧室
K/376/Mi66
111379038
配架済
0件
No.
0001
所蔵館
本館
配置場所
3F第1開架閲覧室
文庫名
請求記号
K/376/Mi66
巻号
年月次
資料ID
111379038
状態
配架済
返却予定日
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書誌詳細
タイトル・著者名
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
出版
京都 : ナカニシヤ出版 , 2022.9
形態事項
ix, 239p : 挿図 ; 26cm
巻号情報
ISBN
9784779516832
その他のタイトル
裏表紙タイトル:Item response theory
その他のタイトル
その他のタイトル:テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方
テスト ワ ナニ オ ハカル ノカ : コウモク ハンノウ リロン ノ カンガエカタ
その他のタイトル
標題紙タイトル:test
注記
「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」(2017年刊)の姉妹編
注記
参考文献: p233-237
注記
事項索引: p238
注記
人名索引: p.239
NCID
BC17143066
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
光永, 悠彦(1979-)||ミツナガ, ハルヒコ <AU00257684>
著者標目リンク
西田, 亜希子(1976-)||ニシダ, アキコ <AU00304677>
分類標目
教育学.教育思想 NDC9:371.7
分類標目
幼児・初等・中等教育 NDC9:376.8
分類標目
幼児・初等・中等教育 NDC10:376.87
件名標目等
教育測定||キョウイクソクテイ
件名標目等
試験 (教育)||シケン(キョウイク)
件名標目等
入学試験(大学)||ニュウガク シケン(ダイガク)
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