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注目先端技術成功の理由 : MOT事例研究 : 液晶ディスプレイ・薄膜SOI・DNAチップ・Linux

武田計測先端知財団編. -- 工業調査会, 2004. <BB00167792>
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No. 所蔵館 配置場所 文庫名 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 本館 4F第2開架閲覧室 K/507/Ta59 108282807 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 本館
配置場所 4F第2開架閲覧室
文庫名
請求記号 K/507/Ta59
巻号
年月次
資料ID 108282807
状態 配架済
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル・著者名 注目先端技術成功の理由 : MOT事例研究 : 液晶ディスプレイ・薄膜SOI・DNAチップ・Linux / 武田計測先端知財団編
チュウモク センタン ギジュツ セイコウ ノ リユウ : MOT ジレイ ケンキュウ : エキショウ ディスプレイ ハクマク SOI DNA チップ Linux
出版 東京 : 工業調査会 , 2004.12
形態事項 228p, 図版 [2] p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN 4769361602
その他のタイトル 奥付タイトル:「MOT事例研究 」注目先端技術成功の理由
エムオーティー ジレイ ケンキュウ チュウモク センタン ギジュツ セイコウ ノ リユウ
その他のタイトル 異なりアクセスタイトル:注目先端技術成功の理由 : MOT事例研究 : 液晶ディスプレイ薄膜SOIDNAチップLinux
チュウモク センタン ギジュツ セイコウ ノ リユウ : MOT ジレイ ケンキュウ : エキショウ ディスプレイ ハクマク SOI DNA チップ Linux
注記 参考文献: 章末
NCID BA70101469
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 武田計測先端知財団
タケダ ケイソク センタンチ ザイダン <>
分類標目 研究・指導法.技術教育.特許 NDC8:507
分類標目 研究法.指導法.技術教育 NDC9:507
分類標目 経営管理 NDC9:336.17
分類標目 経済・産業 NDLC:DH221
件名標目等 技術開発||ギジュツカイハツ
件名標目等 研究管理||ケンキュウカンリ
件名標目等 製品計画||セイヒンケイカク
件名標目等 MOT