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最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

氏平祐輔編. -- リアライズ社, 1991. <BB01085553>
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最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

氏平祐輔編. -- リアライズ社, 1991. <BB01085553>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(2F) /428.4/U57 000077305 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(2F)
請求記号 /428.4/U57
巻号
年月次
資料ID 000077305
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル・著者名 最新固体表面/微小領域の解析・評価技術 / 氏平祐輔編
サイシン コタイ ヒョウメン ビショウ リョウイキ ノ カイセキ ヒョウカ ギジュツ
出版 東京 : リアライズ社 , 1991.3
形態事項 410p ; 27cm
巻号情報
ISBN 4947655429
NCID BN06637673
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 氏平, 祐輔(1936-)
ウジヒラ, ユウスケ <> 編
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