石巻専修大学図書館

植物試料のための超薄切片法

遠山益著. -- 学会出版センター, 1983. -- (医学・生物学のための電子顕微鏡実験法 ; 5). <BB01069728>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(2F) /470/To79 000066688 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(2F)
請求記号 /470/To79
巻号
年月次
資料ID 000066688
状態 配架済
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル・著者名 植物試料のための超薄切片法 / 遠山益著
ショクブツ シリョウ ノ タメノ チョウハク セッペンホウ
出版 東京 : 学会出版センター , 1983.8
形態事項 114p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4762262862
シリーズ 医学・生物学のための電子顕微鏡実験法||イガク セイブツガク ノ タメノ デンシ ケンビキョウ ジッケンホウ <> 5//a
注記 参考書:p110
NCID BN00760418
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 遠山, 益(1930-)
トオヤマ, ススム <>
著者標目リンク 山田, 英智(1922-)
ヤマダ, エイチ <>
分類標目 植物学 NDC8:470.72
分類標目 科学技術 NDLC:RA64
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 ミクロテクニック||ミクロテクニック