石巻専修大学図書館

X線分析の進歩

日本分析化学会X線分析研究懇談会編 ; 15 - 30. -- アグネ技術センター, 1984. -- (X線工業分析 ; 第19-20,22-34集). <BB01066206>
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所蔵一覧 1件~4件(全4件)

No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(2F) /433.5/N71 20 010024297 配架済 0件
0002 石巻 開架図書(2F) /433.5/N71 21 010024305 配架済 0件
0003 石巻 開架図書(2F) /433.5/N71 22 010024313 配架済 0件
0004 石巻 開架図書(2F) /433.5/N71 23 010024321 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(2F)
請求記号 /433.5/N71
巻号 20
年月次
資料ID 010024297
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
No. 0002
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(2F)
請求記号 /433.5/N71
巻号 21
年月次
資料ID 010024305
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
No. 0003
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(2F)
請求記号 /433.5/N71
巻号 22
年月次
資料ID 010024313
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
No. 0004
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(2F)
請求記号 /433.5/N71
巻号 23
年月次
資料ID 010024321
状態 配架済
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル・著者名 X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会編
Xセン ブンセキ ノ シンポ
出版 東京 : アグネ技術センター , 1984.4-
形態事項 冊 ; 26cm
巻号情報
巻次等 15
巻号情報
巻次等 16
巻号情報
巻次等 17
巻号情報
巻次等 18
巻号情報
巻次等 19
ISBN 4750708070
巻号情報
巻次等 20
ISBN 4750708089
巻号情報
巻次等 21
ISBN 4750708100
巻号情報
巻次等 22
ISBN 4750708143
巻号情報
巻次等 23
ISBN 4750708194
巻号情報
巻次等 24
ISBN 4750708259
巻号情報
巻次等 25
ISBN 4750708321
巻号情報
巻次等 26
ISBN 4750708445
巻号情報
巻次等 27
ISBN 4750708542
巻号情報
巻次等 28
ISBN 4750708615
巻号情報
巻次等 29
ISBN 4750708720
巻号情報
巻次等 30
ISBN 4900041734
シリーズ X線工業分析||Xセン コウギョウ ブンセキ <> 第19-20,22-34集//a
その他のタイトル 標題紙タイトル:Advances in X-ray chemical analysis
注記 各章末: 文献
注記 25以降の発売元: アグネ
NCID BN00358542
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本分析化学会X線分析研究懇談会
ニホン ブンセキ カガクカイ Xセン ブンセキ ケンキュウ コンダンカイ <>
分類標目 分析化学 NDC8:433.5
分類標目 科学技術 NDLC:PA124
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ