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Hot carrier design considerations for MOS devices and circuits

edited by Cheng T. Wang. -- Van Nostrand Reinhold, 1992. <BB01124216>
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Hot carrier design considerations for MOS devices and circuits

edited by Cheng T. Wang. -- Van Nostrand Reinhold, 1992. <BB01124216>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /549.8/W37 010172591 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /549.8/W37
巻号
年月次
資料ID 010172591
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル・著者名 Hot carrier design considerations for MOS devices and circuits / edited by Cheng T. Wang
出版 New York : Van Nostrand Reinhold , c1992
形態事項 xiii, 334 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0442001215
注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA19241990
本文言語コード 英語
著者標目リンク Wang, Cheng T. <>
分類標目 LCC:TK7871.99.M44
分類標目 DC20:621.3815/2
件名標目等 Metal oxide semiconductors -- Design and construction
件名標目等 Metal oxide semiconductors -- Reliability
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