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The role of microscopy in semiconductor failure analysis

B.P. Richards and P.K. Footner. -- Oxford University Press, 1992. -- (Microscopy handbooks ; 25)(Oxford science publications). <BB01058776>
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The role of microscopy in semiconductor failure analysis

B.P. Richards and P.K. Footner. -- Oxford University Press, 1992. -- (Microscopy handbooks ; 25)(Oxford science publications). <BB01058776>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /425.9/R35 010185080 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /425.9/R35
巻号
年月次
資料ID 010185080
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル・著者名 The role of microscopy in semiconductor failure analysis / B.P. Richards and P.K. Footner
出版 Oxford : Oxford University Press : Royal Microscopical Society , 1992
形態事項 vi, 108 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0198564325
シリーズ Microscopy handbooks <> 25//a
シリーズ Oxford science publications <>//a
注記 Includes bibliographical references (p. [98]-101) and index
NCID BA19076522
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Richards, B. P. <>
著者標目リンク Footner, P. K. <>
分類標目 LCC:TK7871.85
分類標目 DC20:621.3815/2/0287
件名標目等 Semiconductors -- Testing
件名標目等 Semiconductors -- Failures
件名標目等 Microscopes and microscopy
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