石巻専修大学図書館

Advances in surface and thin film diffraction : symposium held November 27-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A.

editors, Ting C. Huang, Philip I. Cohen, David J. Eaglesham. -- Materials Research Society, 1991. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 208). <BB01055080>
書誌URL:

所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /501/H98 010165132 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /501/H98
巻号
年月次
資料ID 010165132
状態 配架済
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル・著者名 Advances in surface and thin film diffraction : symposium held November 27-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A. / editors, Ting C. Huang, Philip I. Cohen, David J. Eaglesham
出版 Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1991
形態事項 xiii, 367 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 155899100X
シリーズ Materials Research Society symposium proceedings <> v. 208//a
注記 Includes bibliographical references and indexes
NCID BA1240884X
本文言語コード 英語
著者標目リンク Huang, Ting C. <>
著者標目リンク Cohen, Philip I. <>
著者標目リンク Eaglesham, David J. <>
著者標目リンク Materials Research Society <>
分類標目 LCC:QC176.84.S93
分類標目 DC20:620/.44
件名標目等 Thin films -- Surfaces -- Congresses
件名標目等 Thin films -- Optical properties -- Congresses
件名標目等 Diffraction -- Congresses