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High resolution electron microscopy of defects in materials : symposium held April 16-18, 1990, San Francisco, California, USA

editors, Robert Sinclair, David J. Smith, Ulrich Dahmen. -- Materials Research Society, 1990. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 183). <BB01054204>
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High resolution electron microscopy of defects in materials : symposium held April 16-18, 1990, San Francisco, California, USA

editors, Robert Sinclair, David J. Smith, Ulrich Dahmen. -- Materials Research Society, 1990. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 183). <BB01054204>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /501.32/Si8 010165272 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /501.32/Si8
巻号
年月次
資料ID 010165272
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル・著者名 High resolution electron microscopy of defects in materials : symposium held April 16-18, 1990, San Francisco, California, USA / editors, Robert Sinclair, David J. Smith, Ulrich Dahmen
出版 Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1990
形態事項 xi, 391 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 1558990720
シリーズ Materials Research Society symposium proceedings <> v. 183//a
注記 Inclcudes bibliographical references
注記 Includes index
NCID BA11043199
本文言語コード 英語
著者標目リンク Sinclair, Robert <>
著者標目リンク Smith, David J., 1948- <>
著者標目リンク Dahmen, Ulrich <>
著者標目リンク Materials Research Society <>
分類標目 LCC:TA417.23
分類標目 DC20:620.1/1299
件名標目等 Materials -- Microscopy -- Congresses
件名標目等 Materials -- Defects -- Congresses
件名標目等 Electron microscopy -- Congresses
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