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Electron microscopy and analysis

P.J. Goodhew and F.J. Humphreys ; pbk.. -- 2nd ed. -- Taylor & Francis, 1988. <BB01052974>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /549/G65 000499418 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /549/G65
巻号
年月次
資料ID 000499418
状態 配架済
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル・著者名 Electron microscopy and analysis / P.J. Goodhew and F.J. Humphreys
版事項 2nd ed
出版 London ; New York : Taylor & Francis , 1988
形態事項 xi, 232 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0850664152
巻号情報
巻次等 pbk.
ISBN 0850664144
注記 Bibliography: p. [222]-223
注記 Includes index
NCID BA0802056X
著者標目リンク *Goodhew, Peter J. <>
著者標目リンク Humphreys, F. J. <>
分類標目 LCC:QH212.E4
分類標目 DC19:502/.8/25
件名標目等 Electron microscopy