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Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

editors, A. Benninghoven ... [et al.] ; U.S., G.W.. -- Springer Verlag, 1983. -- (Springer series in chemical physics ; v. 36). <BB01050845>
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Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

editors, A. Benninghoven ... [et al.] ; U.S., G.W.. -- Springer Verlag, 1983. -- (Springer series in chemical physics ; v. 36). <BB01050845>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /433/Se13 G.W. 000454884 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /433/Se13
巻号 G.W.
年月次
資料ID 000454884
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル・著者名 Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
出版 Berlin ; New York : Springer Verlag , 1984
形態事項 xv, 503 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 U.S.
ISBN 038713316X
巻号情報
巻次等 G.W.
ISBN 354013316X
シリーズ Springer series in chemical physics <> v. 36//a
注記 "Fourth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry]"--Pref
注記 Includes bibliographical references and index
NCID BA06696320
本文言語コード 英語
著者標目リンク Benninghoven, A. <>
著者標目リンク International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <> (4th : 1983 : Osaka, Japan)
分類標目 LCC:QD96.S43
分類標目 DC19:543/.0873
件名標目等 Secondary ion mass spectrometry -- Congresses
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