石巻専修大学図書館
ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス My Library ▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • ILL複写依頼
    • ILL貸借依頼
    • 新規購入依頼

石巻専修大学図書館

検索結果一覧へ戻る

Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara. -- MIT Press, 1985. -- (MIT Press series in computer systems). <BB01050111>
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara. -- MIT Press, 1985. -- (MIT Press series in computer systems). <BB01050111>
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /548/F68 000497065 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /548/F68
巻号
年月次
資料ID 000497065
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
このページのTOPへ

書誌詳細

タイトル・著者名 Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara
出版 Cambridge, Mass. : MIT Press , c1985
形態事項 x, 284 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0262060965
シリーズ MIT Press series in computer systems <>//a
注記 Bibliography: p. [272]-278
注記 Includes index
NCID BA0446462X
本文言語コード 英語
著者標目リンク *藤原, 秀雄(1946-)
フジワラ, ヒデオ <>
分類標目 LCC:TK7868.L6
分類標目 DC19:621.3815/37
件名標目等 Logic circuits -- Testing
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • ILL複写依頼(コピー取り寄せ)
    • ILL貸借依頼(現物借用)

    この書誌のQRコード