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Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications

Lawrence E. Murr. -- Marcel Dekker, 1982. -- (Optical engineering ; v. 1). <BB01049515>
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Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications

Lawrence E. Murr. -- Marcel Dekker, 1982. -- (Optical engineering ; v. 1). <BB01049515>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /549/Mu79 000500447 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /549/Mu79
巻号
年月次
資料ID 000500447
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル・著者名 Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications / Lawrence E. Murr
出版 New York : Marcel Dekker , c1982
形態事項 xiv, 793 p. : ill. ; 27 cm
巻号情報
ISBN 0824715535
シリーズ Optical engineering <> v. 1//a
注記 Includes bibliographical references and indexes
NCID BA03766394
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Murr, Lawrence Eugene <>
分類標目 LCC:QH212.E4
分類標目 DC19:502/.8/25
件名標目等 Electron microscopy
件名標目等 Field ion microscope
件名標目等 Microprobe analysis
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