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Secondary ion mass spectrometry : SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985

editors, A. Benninghoven ... [et al.]. -- Springer-Verlag, 1986. -- (Springer series in chemical physics ; 44). <BB01045574>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /428/I57 000463265 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /428/I57
巻号
年月次
資料ID 000463265
状態 配架済
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

タイトル・著者名 Secondary ion mass spectrometry : SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
出版 Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1986
形態事項 xxi, 561 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0387162631
シリーズ Springer series in chemical physics <> 44//a
注記 Includes bibliographies and index
NCID BA00846599
本文言語コード 英語
著者標目リンク *International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <> (5th : 1985 : Washington, D.C.)
著者標目リンク Benninghoven, A. <>
分類標目 LCC:QD96.S43
分類標目 DC19:539/.6/028
件名標目等 Secondary ion mass spectrometry -- Congresses