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VLSI testing

edited by T.W. Williams. -- North-Holland, 1986. -- (Advances in CAD for VLSI ; v. 5). <BB01042798>
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VLSI testing

edited by T.W. Williams. -- North-Holland, 1986. -- (Advances in CAD for VLSI ; v. 5). <BB01042798>
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No. 所蔵館 配置場所 請求記号 巻号 年月次 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 石巻 開架図書(3F) /549/V84 000501312 配架済 0件
No. 0001
所蔵館 石巻
配置場所 開架図書(3F)
請求記号 /549/V84
巻号
年月次
資料ID 000501312
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

タイトル・著者名 VLSI testing / edited by T.W. Williams
出版 Amsterdam ; New York : North-Holland
出版 New York : Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science , 1986
形態事項 ix, 275 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0444878955
シリーズ Advances in CAD for VLSI <> v. 5//a
注記 Includes bibliographies
NCID BA00276923
本文言語コード 英語
著者標目リンク Williams, T. W. <>
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC19:621.395
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
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